測量
所有分類下結果硅片厚度測厚儀
[中介]硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內的硅片等各種材料的厚度精確測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數據實時顯示
具有輸出接口，可選配適配器實現232接口功能
技術指標
測
太陽能光伏電池IV特性分析系統
[中介]太陽能光伏電池的所有性能表征手段中，IV特性測試無疑是最直觀、最有效、最被廣泛應用的一種方法。PH-SIV100通過測量IV特性曲線，對數據分析處理，可以直接得到光伏電池的各項物理性能。為光伏電池的研究、
無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統
[中介]HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統是一款廣泛應用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設計都符合ASTM(美國材料
單點少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
激光橢偏儀針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量
[中介]多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有極高的精確度和準確度。
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產品特點
■ 同時檢
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
光譜橢偏儀全自動
[中介]全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調節樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確性。已獲得專利的自動樣品對準裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于
自動光譜橢偏儀
[中介]光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應用的光譜
原生多晶及硅芯型號測試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款高端半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產企業的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅料型號測量，型
