MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀 
    概述：
	
		
			
				新的MiniTest700涂層測厚儀產品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測厚市場的領導地位。
- 創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性
- 測量范圍達15mm
    

    


    


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    信用：4.0  隱性收費：4.0
    

    描述：4.0  產品質量：4.0 
    

    物流：4.0  服務態度：4.0
    

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				新的MiniTest700涂層測厚儀產品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測厚市場的領導地位。
    
- 創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性
    
- 測量范圍達15mm，可F、N或FN探頭，提供內置或外接探頭
    
- FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯
    
優點一覽
			    		
			
			
			
				
			
		
    
		
    
			
				- SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
    
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內置換為外置)
    
- FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
    
- 溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
    
- 生產過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
    
- 大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
    
- 讀數和統計值能單獨調出
    
- 超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
    
- 菜單指引操作，25種語言可選
    
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
    
- 可下載更新軟件
    
MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀技術參數
    
主機
    

				
    
					
						
    
							
								主機型號
							
							
								MiniTest720
							
							
								MiniTest730
							
							
								MiniTest740
							
						
    
						
    
							
								探頭類型
							
							
								內置
							
							
								外置
							
							
								內置外置可換
							
						
    
						
    
							
								數據記憶組數
							
							
								10
							
							
								10
							
							
								100
							
						
    
						
    
							
								存儲數據量
							
							
								最多10,000個
							
							
								最多10,000個
							
							
								最多100,000個
							
						
    
						
    
							
								統計值
							
							
								讀值個數、最小值、最大值、平均值、標準方差、變異系數、組統計值(標準設置/自由配置)
							
						
    
						
    
							
								校準程序符合國際標準和規范
							
							
								ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準
							
						
    
						
    
							
								校準模式
							
							
								出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調節補償值
							
						
    
						
    
							
								極限值監控
							
							
								聲、光報警提示超過極限
							
						
    
						
    
							
								測量單位
							
							
								μm，mm，cm；mils，inch，thou
							
						
    
						
    
							
								數據接口
							
							
								IrDA 1.0(紅外接口)
							
						
    
						
    
							
								電源
							
							
								2節AA電池
							
						
    
						
    
							
								標準
							
							
								DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
    
ASTM B244，B499，D7091，E376
    
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
							    		
						
    
						
    
							
								操作溫度 /存放溫度
							
							
								- 10℃~60℃/- 20℃~70℃
							
						
    
						
    
							
								體積
							
							
								157mm x 75.5mm x 49mm
							
						
    
						
    
							
								重量
							
							
								約175g
							
							
								約210g
							
							
								約175g(內置)/230g(外置)
							
						
    
					
				
    

    
MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀技術參數
    

				
    
					
						
    
							
								探頭特性
							
							
								F1.5，N07，FN1.5
							
							
								F2
							
							
								F5，N2.5，FN5
							
							
								F15
							
						
    
						
    
							
								F
							
							
								N
							
							
								F
							
							
								F
							
							
								N
							
							
								F
							
						
    
						
    
							
								測量范圍
							
							
								0~1.5mm
							
							
								0~0.7mm
							
							
								0~2mm
							
							
								0~5mm
							
							
								0~2.5mm
							
							
								0~15mm
							
						
    
						
    
							
								使用范圍
							
							
								小工件，薄涂層
							
							
								粗糙表面
							
							
								標準探頭，使用廣泛
							
							
								厚涂層
							
						
    
						
    
							
								測量原理
							
							
								磁感應
							
							
								電渦流
							
							
								磁感應
							
							
								磁感應
							
							
								電渦流
							
							
								磁感應
							
						
    
						
    
							
								信號處理
							
							
								探頭內部32位信號處理(SIDSP)
							
						
    
						
    
							
								精確度
							
							
								±(1μm+0.75%讀值)
							
							
								±(1.5μm+0.75%讀值)
							
							
								±(5μm+0.75%讀值)
							
						
    
						
    
							
								重復性
							
							
								±(0.5μm+0.5%讀值)
							
							
								±(0.8μm+0.5%讀值)
							
							
								±(2.5μm+0.5%讀值)
							
						
    
						
    
							
								低端分辨率
							
							
								0.05μm
							
							
								0.1μm
							
							
								1μm
							
						
    
						
    
							
								最小曲率半徑(凸)
							
							
								1.0mm
							
							
								1.5mm
							
							
								5mm
							
						
    
						
    
							
								最小曲率半徑
    

							    		
							
								(凹，外置探頭)
							
							
								7.5mm
							
							
								10mm
							
							
								25mm
							
						
    
						
    
							
								(凹，內置探頭)
							
							
								30mm
							
							
								30mm
							
							
								30mm
							
						
    
						
    
							
								最小測量面積
							
							
								Ø5mm
							
							
								Ø10mm
							
							
								Ø25mm
							
						
    
						
    
							
								最小基體厚度
							
							
								0.3mm
							
							
								40μm
							
							
								0.5mm
							
							
								0.5mm
							
							
								40μm
							
							
								1mm
							
						
    
						
    
							
								連續模式下測量速度
							
							
								每秒20個讀數
							
						
    
						
    
							
								單值模式下最大測量速度
							
							
								每分鐘70個讀數
							
						
    
					
				
    
			    		
		
    
	

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