自動光譜橢偏儀 

    概述:[中介]光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用,可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層(二層或多層)減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應用的光譜

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    光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用,可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層(二層或多層)減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應用的光譜橢偏儀基于最佳的橢偏光路設計,高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件,可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學常數,光學帶寬等。



    光譜橢偏儀 - 產品特點

    ■ 連續波長的光源為用戶提供了更大的應用空間
    ■ 更簡便快捷的樣品準直方法
    ■ 軟件具備豐富的材料數據庫
    ■ 允許用戶自定義色散模型,更方便用戶研究新材料的光學性質
    ■ 全波長多角度同時數據擬合,EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
    ■ 具有實驗數據和模擬數據三維繪圖功能
    ■ 光譜范圍寬達250 - 1100nm (可擴展至250-1700nm)
    ■ 功能強大的光譜橢偏測量與分析軟件



    光譜橢偏儀 - 技術指標

    ■ 光源:氙燈
    ■ 光斑直徑:1-3mm
    ■ 入射角范圍:20°到90°,5°/步
    ■ 波長范圍:350-850nm, 250-1100nm, 250-1700nm:0.002°~ 0.02°
    ■ 波長精度:1nm
    ■ 測量時間: < 8s (取決于測量模式和粗糙度)
    ■ 樣品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm電池片, 其他尺寸
    ■ 測量精度:0.02nm
    ■ 折射率:0.0002, 100nmSiO2 on Si 
    ■ 厚度測量范圍:0.01nm ~ 50um
    ■ 消光比:10-6




    光譜橢偏儀 - 可選配

    ■ CCD線陣列探測元件:200-850nm,350-1000nm
    ■ 樣品顯微鏡
    ■ 高穩定性消色差補償器
    ■ 透射測量架
    ■ XY移動樣品臺
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