廠家供應電腦型明暗場微分干涉DIC 導電粒子KCF檢測金相顯微鏡 

MWS-JXP8002型號DIC金相顯微鏡，FPD檢查顯微鏡，應用與LCD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查。 

兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致，使操作更加得心應手。

三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線100%用于雙目觀察或三目攝影的基礎上，增加一檔20%用于雙目觀察，80%用于顯微攝影，方便用戶同時對鏡下圖像與視頻圖像進行對比觀察 ，微分干涉物鏡充低倍到高倍,都能得到清晰平坦的微分干涉顯微圖像。使用人員只需在正交偏光的基礎上插入DIC棱鏡即可進行明視場DIC微分干涉觀察。使用DIC技術可以讓物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果極大的提高圖像的對比度。同時也可以在不用更換暗場物鏡的情況下實現暗場觀察操作既方便也節(jié)省另外購置暗場物鏡的成本。 

 儀器特點

• MWS-JXP8002型號DIC微分干涉金相顯微鏡其微分干涉效果可與進口品牌相媲美 
• MWS-JXP8002型號DIC微分干涉金相顯微鏡機型采用長工作距物鏡、半復消色差技術多層寬帶鍍膜技術采用長壽命LED光源
• 多種高度功能化的附件能滿足各種檢驗需要可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察
• 曼威斯工程師研發(fā)的長工作距離金相物鏡高倍物鏡采用半復消技術。
• 各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像。
• MWS-JXP8002型號DIC微分干涉金相顯微鏡采用左右低手位粗微同軸調焦機構，帶松緊調節(jié)裝置。粗調行程25mm，微調精度1um，可用于測量Z軸方向極細微物體的高度，如錫球。右手位平臺，帶鎖緊裝置大行程機械平臺，適用范圍廣。帶Y軸移動鎖定功能，完全鎖緊后限制Y軸的移動，可用于橫向檢測，防止陣列器件檢測時出現漏檢現象。玻璃載物臺板可用于透射光觀察。

 配置U-DICR微分干涉組件，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現出來，如LCD 導電粒子，精密磁盤表面劃痕等。