玻璃/晶片缺陷檢查成像技術 PTC-ED脈理儀(紋理檢測儀)
概述:玻璃/晶片缺陷檢查成像技術 PTC-ED脈理儀(紋理檢測儀) 該系統結合了獨特的光學成像和圖像處理技術。 我們可以捕獲人眼難以識別的缺陷圖像
玻璃/晶片缺陷檢查成像技術 PTC-ED脈理儀(紋理檢測儀)
該系統結合了獨特的光學成像和圖像處理技術。
我們可以捕獲人眼難以識別的缺陷圖像
反射+透射檢查
寬視野范圍:最大 136 mm
放大功能 : 從宏觀到微觀的檢驗
表面/ 內部缺陷可視化檢查
聚焦范圍廣
通過ED處理我們可以得到更清晰的圖像!
應用領域:
晶圓,薄膜,玻璃,石英,藍寶石等
缺陷檢查 :
表面缺陷,例如劃痕,凹陷, 水印, 拋光不勻
裂紋檢查 , 薄膜不均勻
內部缺陷,例如脈理檢查等
硬件 |
主體單元 |
高分辨率 微距鏡頭, 數碼CMOS相機 |
特殊光源, 精微傾斜臺 |
||
PC 單元 |
Windows10 , 顯示器,鍵盤,鼠標 |
|
檢測方法 |
反射用于表面檢查 / 透射用于內部檢查 |
|
相機 |
分辨率 |
CMOS 2/3英寸, 2448 x 2048, 5M 像素 |
|
幀數率 |
35幀/s ( 最大), 圖像 (BMP, JPG) 視頻(MPG) |
視野范圍(光學) |
焦距70 mm~300 mm |
約 136 mm x 115 mm~34 mm x 28 mm |
光源 |
白色 LED ( 標準, 3W) |
壽命約25000 h ( 取決于使用情況) 0-8步可調 |
圖像處理 |
獨特的圖像處理軟件,采用多個圖像數據 |
|
自動ED處理 |
5相步進電機 |
Focus unit is controlled by PC |
尺寸 / 重量 |
300 (W) x 470 (D) x990 (H) mm / 約 40 kg |
如需更新軟件或硬件,請聯系我們。




- ptc17118發布的信息
- 碳化硅微管瑕疵檢測偏光儀PSV-590
- 單色光(晶圓、晶片、晶體)偏光應力儀PSV-590 適用范圍: l適合于檢測透明玻璃或燈等有復雜構造的產品。 l檢測高密度的塑料產品,如隱形眼鏡等。 l檢測光學...
- 華東地區偏光片吸收軸測量儀OI-OAM
- 偏光片吸收軸測量儀是一款專門測量偏光片吸收軸角度的儀器。測試時采用手動放置偏光片的方式,可對偏光片吸收軸角度進行單次測量和多次連續測量,并實時顯示測量結果。并可保存大量測試數據,具備數據查詢,光軸角度分布分析、數據報表導出等功能。...
- 表面應力儀LED光源
- 應力儀光源: 名稱:應力儀光源 型號:ASM-595 中央波長Central wave length:595+/-10nm 電源Power source:+5VDC 大于1A ...
- 磁鐵外觀缺陷檢測設備
- 本設備是一種在線檢測缺陷的設備,它能夠自動完成鏡頭金屬環缺陷缺陷檢測、尺寸測量、自動上料、自動下料的多項功能DE-DMM是我司針對磁性材料外觀及尺寸缺陷研發的一款高精度、自動化檢測設備。該設備可以...
- 全自動鋼化玻璃應力儀ASM-100-3
- ...
- COC高分子材料全自動應力儀NMV-145
- 全自動偏光應力儀NMV-145是全自動檢測具有應力與雙折射的透明物體內部的光程差和慢軸方向的二次元定量測量裝置。 光線經過偏振片變成園偏振光,放置有應力的樣品,雙折射的慢軸快軸產生光程差,出射光變成...